Rasterelektronenmikroskop mit EDX

Mit unserem Rasterelektronenmikroskop Leo440i mit stickstofffreiem EDX Detektor bieten wir Ihnen folgende Leistungen an:

• Oberflächenuntersuchung mit höchster Auflösung und Tiefenschärfe (SE-Detektor)
• Elementkontrastbilder mit Rückstreuelektronen (BSE-Detektor)
• chemische Analyse mittels EDX z.B. quantitative Spotanalyse
• chemische Elementverteilung mittels EDX qualitativ z.B. Linescan und Mapping sowie quantitativ im Linescan
• Untersuchung von nicht leitfähigem Material durch Sputtern mit Gold oder C möglich

Mit diesen Untersuchungsmethoden liefern wir Ihnen die exakten Oberflächenbilder sowie die Lage und chemische Art möglicher Einschlüsse. Es lassen sich Bruchbilder ebensogut untersuchen wie Überzüge im Querschliff und dies bei Vergrößerungen bis zu 50.000 fach.